Programas

especificaciones

Microscopio electrónico de barrido ZEISS EVO 40 VP.

Detectores:

  1. Detector de electrones secundarios (SED).
  2. Detector sólido de electrones retrodispersos (QBSED).
  3. Detector de electrones secundarios en presión variable(VPSE).

Observaciones

  1. Observación  de muestras  en  alto vacío con detector de electrones secundarios y retro-dispersos (SE/BSE).
  2. Observación  de muestras  a  presión variable (VP)  con detector de electrones secundarios y retro-dispersos (ES/BSE).
  3. Observación de material biológico fresco, sin necesidad de recubrimiento metálico o uso de fijadores, disminuyendo riesgos de contaminación y posibilidad presencia de artefactos en la muestra.
  4. Observación  de cortes ultrafinos  con electrones transmitidos mediante sistema  STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy).
  5. Uso de platina en frío  para la observación de  muestras  frescas.

Otras facilidades:

Secado a punto Crítico: mediante el empleo de un secador de punto crítico
CDP-1 Denton Vacuum (Critical Point Drying Apparatus C P D-1). Este secador puede procesar muestras muy frágiles,  que se deformarían  al secarse en hornos o al aire.
 
Recubrimiento Metálico:  uso de un cobertor iónico ‘Anatech modelo Hummer VI-A ( Hummer VI-A Sputtering System) es usado en muestras que necesitan observarse en alto vacío. A través de este proceso las muestras se recubren de una fina capa metálica de oro/paladium (60%:40%) para hacerlas conductivas al paso de los electrones secundarios.